Blick ins Buch

Test digitaler Schaltkreise

Stephan Eggersglüß, Görschwin Fey, Ilia Polian (Autoren)

Buch | Softcover

X, 228 Seiten

2014
De Gruyter Oldenbourg (Verlag)
978-3-486-72013-6 (ISBN)

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Eingebettete Systeme übernehmen zentrale Steueraufgaben im täglichen Leben. In der Energieversorgung oder im Transportwesen würde ein Ausfall der Systeme fatale Auswirkungen haben. Der Nutzer verlässt sich aber auf ein fehlerfreies Funktionieren des Systems. Die Funktionstüchtigkeit der Schaltkreise zu garantieren, ist das Ziel des Testens - und das mit geringen Kosten, da jeder Chip nach der Produktion separat getestet werden muss.

Stephan Eggersglüß, Görschwin Fey, Ilia Polian

Erscheint lt. Verlag	29.1.2014
Reihe/Serie	De Gruyter Studium
Zusatzinfo	77 b/w ill., 14 b/w tbl.
Verlagsort	Berlin/München/Boston
Sprache	deutsch
Maße	170 x 240 mm
Gewicht	468 g
Themenwelt	Mathematik / Informatik ► Informatik ► Theorie / Studium
	Informatik ► Weitere Themen ► Hardware
	Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik
Schlagworte	digital • Digital Circuits • Digital circuit testing • Digital circuit testing; testing; digital circuits • Schaltkreis • Testen • Testing
ISBN-10	3-486-72013-9 / 3486720139
ISBN-13	978-3-486-72013-6 / 9783486720136
Zustand	Neuware