Zum Hauptinhalt springen
Nicht aus der Schweiz? Besuchen Sie lehmanns.de

Vakuumbeschichtung

Anlagenautomatisierung — Meß- und Analysentechnik

Gerhard Kienel (Herausgeber)

Buch | Softcover
XII, 368 Seiten
2012
Springer Berlin (Verlag)
978-3-642-63511-3 (ISBN)

Lese- und Medienproben

Vakuumbeschichtung -
CHF 76,95 inkl. MwSt
Behandelt werden Messungen an dünnen Schichten während und nach der Beschichtung, Schichtdickenmeßverfahren, Verfahren der Dünnschichtanalyse sowie die Automatisierung von Vakuumbeschichtungsanlagen.

1 Automatisierung von Vakuumbeschichtungsanlagen.- 1.1 Vorbemerkungen.- 1.2 Steuerungssysteme.- 1.3 Materialfluß.- 1.4 Automatisierung von Teilsystemen.- 1.5 Beispiele für die Automatisierung von Beschichtungsprozessen.- 2 Messungen an Dünnen Schichten während des Beschichtungsprozesses.- 2.1 Bestimmung der Schichtdicke durch Widerstandsmessung.- 2.2 Ratenmessung durch Teilchen-Ionisierung und -Anregung.- 2.3 Schichtdicken und Aufdampfratemessung mit Schwingquarz.- 2.4 Optische Meßverfahren.- 2.5 Schichtdickenbestimmung durch Wägung im Vakuum.- 2.6 Bestimmung der Schichtdicke und der Schichtzusammensetzung durch Röntgenemission und Röntgenfluoreszenz.- 2.7 Atomemissionsspektroskopie.- 3 Messungen an dünnen Schichten nach beendetem Beschichtungsprozeß.- 3.1 Messung der thermischen Leitfähigkeit.- 3.2 Elektrische Leitfähigkeit.- 3.3 Magnetische Eigenschaften.- 3.4 Messung von Farbeigenschaften.- 3.5 Optische Eigenschaften.- 3.6 Permeation.- 3.7 Mechanische Spannungen in dünnen Schichten.- 3.8 Härtemessung.- 3.9 Haftfestigkeit.- 3.10 Rauheit von Festkörperoberflächen.- 3.11 Mikrogeometrische Eigenschaften.- 3.12 Schichtdickenmessung.- 3.13 Bestimmung von Pinholedichten.- 4 Moderne Verfahren der Oberflächen-und Dünnschichtanalyse.- 4.1 Physikalische Grundlagen oberflächenanalytischer Verfahren.- 4.2 Ortsaufgelöste Analysen mit AES, XPS, SIMS und SNMS.- 4.3 Sputter-Tiefenprofilanalysen.- 4.4 Rastertunnelmikroskopie.- 4.5 Mikrosonde (Elektronenstrahlmikrosonde).- 4.6 Anwendungsbeispiele zur Oberflächen-und Dünnschichtanalytik.- Literatur.- Sachwortverzeichnis.- Autorenverzeichiiis.

Erscheint lt. Verlag 30.10.2012
Reihe/Serie VDI-Buch
Zusatzinfo XII, 368 S.
Verlagsort Berlin
Sprache deutsch
Maße 155 x 235 mm
Gewicht 580 g
Themenwelt Technik Maschinenbau
Schlagworte 3184013138 • Dickenmessverfahren • dünne Schichten • Schichtdicke • Vakuumbeschichten
ISBN-10 3-642-63511-3 / 3642635113
ISBN-13 978-3-642-63511-3 / 9783642635113
Zustand Neuware
Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR)
Haben Sie eine Frage zum Produkt?
Mehr entdecken
aus dem Bereich