Untersuchung der Degradation von InAlGaN-basierten ultravioletten Leuchtdioden zur Verbesserung der Zuverlässigkeit

Johannes Glaab (Autor)

Buch

202 Seiten

2025
Cuvillier Verlag
978-3-68952-874-4 (ISBN)

Infos

Diese Arbeit untersucht das betriebsinduzierte Degradationsverhalten von InAlGaN-basierten UV-C und UV-B LEDs. Durch Analyse des zeitlichen Verlaufs von elektroopti-schen Parametern, wie beispielsweise optische Leistung und Betriebsspannung, sowie Materialanalytischen Messungen konnten drei Degradationsmechanismen identifiziert werden, welche zu einer Reduktion der optischen Leistung der LEDs führen: Die Aktivie-rung von Magnesium-Wasserstoff-Komplexen, die Bildung von Punktdefekten in der akti-ven Zone, sowie die Diffusion von Punktdefekten in die aktive Zone. Optimierungen der Heterostruktur, des p-Dotierprofil und der Elektronenblockierschicht verbesserten die Lochinjektion und strahlende Rekombination, wodurch die initiale Leistung erhöht und die Lebensdauer der LEDs deutlich gesteigert werden konnte.

Produkt-Details

• Erscheinungsdatum: 28.06.2025
• Reihe/Serie: Innovationen mit Mikrowellen und Licht ; 79
• Verlagsort: Göttingen
• Sprache: deutsch
• Maße: 148 x 210 mm
• Themenwelt: Naturwissenschaften
• Themenwelt: Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik
• Schlagworte: Degradationsmechanismen, Degradationsverhalten, elektrooptisch • Elektronenblockierschicht, Molekularstrahlepitaxie, metallorganische Gasphasenepitaxie • Ladungsträger, Strahlungsquellen, Halbleiter, Inalgan • Leckstrom, nichtstrahlend, Rekombination, Photostrom, LED
• ISBN-10: 3-68952-874-7 / 3689528747
• ISBN-13: 978-3-68952-874-4 / 9783689528744
• Zustand: Neuware