X-Ray Spectroscopy
Springer Berlin (Verlag)
9783540507192 (ISBN)
Content.- 1. Continuous X-Rays.- 2. Characteristic X-Rays.- 3. Interaction of X-Rays with Matter.- 4. Secondary Spectra and Satellites.- 5. Scattering of X-Rays.- 6. Chemical Shifts in Emission Spectra.- 7. Absorption Spectra.- 8. Soft X-Ray Spectroscopy.- 9. Experimental Methods.- Appendix A Rutherford Scattering for an Attractive Field.- A.1 Equation of Hyperbola.- A.2 Rutherford Scattering.- Appendix B Bohr's Formula for Energy Loss.- Appendix C X-Ray Atomic Energy Levels.- Appendix D Electron Distribution Among the Levels of Free Atoms.- Appendix E Curves Representing Values of Electron Energies.- Appendix F Dipole Sum Rule.- Appendix G Screening Effect, According to Slater.- Appendix H Electronegativity Scale.- Appendix I Common Analyzing Crystals.- Appendix J Wavelength Tables.- References.- Author Index.
| Erscheint lt. Verlag | 10.10.1991 |
|---|---|
| Reihe/Serie | Springer Series in Optical Sciences |
| Zusatzinfo | XV, 421 p. 18 illus. |
| Verlagsort | Berlin |
| Sprache | englisch |
| Maße | 155 x 235 mm |
| Gewicht | 662 g |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Chemie ► Analytische Chemie |
| Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Atom- / Kern- / Molekularphysik | |
| Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Optik | |
| Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik | |
| Schlagworte | Absorption • Laser • scattering • semiconductor • Spectra • spectroscopy • Synchrotron radiation • X-ray spectroscopy |
| ISBN-13 | 9783540507192 / 9783540507192 |
| Zustand | Neuware |
| Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR) | |
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