Transmission Electron Microscopy

The Companion Volume

C. Barry Carter, David B. Williams (Herausgeber)

Online Resource

LXIII, 809 Seiten

2026 | 2. Second Edition 2026
Springer International Publishing (Hersteller)
978-3-031-80789-3 (ISBN)

Produkt-Details

• Erscheint lt. Verlag: 27.2.2026
• Reihe/Serie: Chemistry and Material Science (R0)
• Reihe/Serie: Chemistry and Materials Science
• Zusatzinfo: LXIII, 809 p. 540 illus., 338 illus. in color.
• Verlagsort: Cham
• Sprache: englisch
• Themenwelt: Technik ► Maschinenbau
• Schlagworte: EELS • EFTEM • electron diffraction • electron holography • Electron Sources • Electron Tomography • Focal-series reconstruction • Nanoparticle characterization • Operando TEM • Spectrum Imaging • TEM Textbook • Transmission Electron Microscopy • XEDS
• ISBN-10: 3-031-80789-8 / 3031807898
• ISBN-13: 978-3-031-80789-3 / 9783031807893
• Zustand: Neuware