Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials
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Reports on hyperspectral imaging microscopy techniques for atomic layer mapping of two-dimensional materials
| Erscheinungsdatum | 29.03.2022 |
|---|---|
| Reihe/Serie | Reports on Measurement and Sensor Systems |
| Verlagsort | Düren |
| Sprache | englisch |
| Maße | 148 x 210 mm |
| Gewicht | 260 g |
| Themenwelt | Sachbuch/Ratgeber ► Natur / Technik ► Technik |
| Technik ► Maschinenbau | |
| Schlagworte | Hyperspectral Imaging • layer thickness • Microscopy • multivariate analysis • Two-Dimensional Materials |
| ISBN-10 | 3-8440-8517-3 / 3844085173 |
| ISBN-13 | 978-3-8440-8517-4 / 9783844085174 |
| Zustand | Neuware |
| Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR) | |
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