10th Annual Symposium on Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (Ipfa)
2003
I.E.E.E.Press (Hersteller)
978-0-7803-7723-3 (ISBN)
I.E.E.E.Press (Hersteller)
978-0-7803-7723-3 (ISBN)
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This CD-ROM covers topics on: advanced failure analysis techniques; advanced interconnects; dielectrics and hot-carrier reliability; EOS/ESD and CMOS latchup; practical issues in building-in reliability; and reliability and failure analysis in specialist devices.
| Erscheint lt. Verlag | 30.9.2003 |
|---|---|
| Verlagsort | Piscataway NJ |
| Sprache | englisch |
| Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
| ISBN-10 | 0-7803-7723-0 / 0780377230 |
| ISBN-13 | 978-0-7803-7723-3 / 9780780377233 |
| Zustand | Neuware |
| Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR) | |
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