Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme

Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung

Titu-Marius I. Băjenescu (Autor)

Buch | Hardcover

XXXIII, 639 Seiten

2020
Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH (Verlag)
9783658221775 (ISBN)

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Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.

Titu-Marius I. Băjenescu ist emeritierter Universitätsprofessor und war zuletzt als unabhängiger Berater in den Bereichen Telekommunikation, Zuverlässigkeit, Qualität und Sicherheit elektronischer Systeme tätig. Er hat an zahlreichen europäischen Universitäten geforscht und gelehrt und für seine Leistungen zwei Ehrendoktortitel erhalten. Er ist Autor mehrerer Bücher zum Thema elektronischer Bauelemente in französischer, rumänischer, englischer und deutscher Sprache.

Zuverlässigkeit einbauen.- Verpackungstechnologien und Zuverlässigkeit.- Memristor, der Speicherwiderstand.- Test und Testbarkeit integrierter Schaltungen.- Zuverlässigkeit diskreter passiver Bauelemente.- Zuverlässigkeit von Leistungsbauelementen.- Zuverlässigkeit monolithisch integrierter Schaltungen.- Aspekte der Zuverlässigkeit von Halbleiterspeichern und Mikroprozessoren.- Zuverlässigkeit optoelektronischer Komponenten.- Zuverlässigkeit von Mikro- und Nanosystemen.- Ausfallanalyse.

Erscheinungsdatum	26.01.2020
Zusatzinfo	XXXIII, 639 S. 232 Abb., 24 Abb. in Farbe.
Verlagsort	Wiesbaden
Sprache	deutsch
Maße	168 x 240 mm
Gewicht	1482 g
Themenwelt	Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik
Schlagworte	Ausfallanalyse • Buch • diskrete Bauelemente • Elektronik • Elektronische Bauelemente • Elektrotechnik • Halbleiter • hochintegrierte Schaltung • Kondensator • memristor • MEMS • Mikroprozessor • Nachrichtentechnik • NEMS • optoelektronische Komponenten • Speichermodul • Test und Testbarkeit • Verpackungstechnologien • Wandler • Zuverlässigkeit
ISBN-13	9783658221775 / 9783658221775
Zustand	Neuware