ISTFA 2017 Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis
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2018
A S M International (Verlag)
978-1-62708-150-4 (ISBN)
A S M International (Verlag)
978-1-62708-150-4 (ISBN)
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The theme for the November 2017 conference is Striving for 100% Success Rate. Papers focus on the tools and techniques needed for maximizing the success rate in every aspect of the electronic device failure analysis process.
| Erscheinungsdatum | 07.01.2018 |
|---|---|
| Verlagsort | Materials Park, OH |
| Sprache | englisch |
| Maße | 152 x 229 mm |
| Gewicht | 1588 g |
| Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
| ISBN-10 | 1-62708-150-X / 162708150X |
| ISBN-13 | 978-1-62708-150-4 / 9781627081504 |
| Zustand | Neuware |
| Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR) | |
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