Reliability, Stress Analysis, and Failure Prevention Issues in Adhesive and Bolted Connections - 1999
1999
American Society of Mechanical Engineers,U.S. (Verlag)
9780791816592 (ISBN)
American Society of Mechanical Engineers,U.S. (Verlag)
9780791816592 (ISBN)
Contains the 16 papers presented at the November 1999 symposium. The topics include temperature distribution in a VLSI chip due to dynamic power density, the strength of joints combining adhesives with bolts, optimization of adhesively bonded single lap joints by adhered notching, and estimation of
| Erscheint lt. Verlag | 30.10.1999 |
|---|---|
| Zusatzinfo | illustrations |
| Verlagsort | Fairfield |
| Sprache | englisch |
| Themenwelt | Technik ► Maschinenbau |
| ISBN-13 | 9780791816592 / 9780791816592 |
| Zustand | Neuware |
| Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR) | |
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