Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing III
3-5 August 2009, San Diego, California, United States
2009
SPIE Press (Hersteller)
978-0-8194-7695-1 (ISBN)
SPIE Press (Hersteller)
978-0-8194-7695-1 (ISBN)
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| Erscheint lt. Verlag | 15.10.2009 |
|---|---|
| Mitarbeit |
Sonstige Mitarbeit: Spie |
| Zusatzinfo | Illustrations |
| Verlagsort | Bellingham |
| Sprache | englisch |
| Themenwelt | Technik |
| ISBN-10 | 0-8194-7695-1 / 0819476951 |
| ISBN-13 | 978-0-8194-7695-1 / 9780819476951 |
| Zustand | Neuware |
| Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR) | |
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