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Characterization of Advanced Materials -

Characterization of Advanced Materials

W. Altergott, E. Henneke (Herausgeber)

Buch | Softcover
183 Seiten
2012 | 1990 ed.
Springer-Verlag New York Inc.
9781461366393 (ISBN)
CHF 74,85 inkl. MwSt
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Stereo X-Ray Radiography of Composite Materials.- Application of X-Ray Computed Tomography to Ceramic/Ceramic Composites.- High Speed Heterodyne Holographic Interferometry.- Optical Fiber Waveguide Methods for Advanced Materials.- Adiabatic Thermography of Composite Materials.- Application of Scanning Acoustic Microscopy to Advanced Structural Ceramics.- TEM Studies of Semiconductor Materials.- The Characterization of New Austenitic Stainless Steels Highly Resistant to Cavitation-Erosion.- Characterization of Duplex Stainless Steels by TEM, SANS, and APFIM Techniques.- Characterization of Microstructures in Rapidly Solidified Alloys.- Characterization of Wear-Resistant Coatings and Surface Treatments.

Zusatzinfo IX, 183 p.
Verlagsort New York, NY
Sprache englisch
Maße 178 x 254 mm
Themenwelt Technik Maschinenbau
ISBN-13 9781461366393 / 9781461366393
Zustand Neuware
Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR)
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