Electron Microscopy XIV
Seiten
2012
Trans Tech (Verlag)
978-3-03785-381-8 (ISBN)
Trans Tech (Verlag)
978-3-03785-381-8 (ISBN)
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| Erscheint lt. Verlag | 10.4.2012 |
|---|---|
| Sprache | englisch |
| Maße | 170 x 240 mm |
| Gewicht | 1100 g |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Atom- / Kern- / Molekularphysik |
| Technik ► Maschinenbau | |
| Schlagworte | Aluminium Alloy • EBSD • Electron Microscope • Engineering • FIB/SEM Tomography • HREM • Melt-Spinning • microstructure • Pulsed Laser Deposition (PLD) • Quasicrystal • rapid solidification • scanning electron microscope (SEM) • SEM • stem • Superalloy • surface layer • TEM • texture • Thin film • Werkstoffe |
| ISBN-10 | 3-03785-381-6 / 3037853816 |
| ISBN-13 | 978-3-03785-381-8 / 9783037853818 |
| Zustand | Neuware |
| Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR) | |
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