Testverfahren in der Mikroelektronik

Methoden und Werkzeuge

Wilfried Daehn (Autor)

Buch | Softcover

XI, 219 Seiten

2011
Springer Berlin (Verlag)
978-3-642-64456-6 (ISBN)

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Die Akzeptanz mikroelektronischer Systemlösungen in industriellen und privaten Anwendungsbereichen hängt in starkem Maße von der Fehlerfreiheit und Zuverlässigkeit der eingesetzten elektronischen Schaltungen ab. Dies ist durch Verbesserungen in der Fertigung allein nicht mehr zu gewährleisten. Die Komplexität heutiger VLSI-Schaltungen hat dabei den Anteil der Testkosten an den gesamten Herstellungskosten eines digitalen Systems in rasanter Weise steigen lassen. Das Buch gibt einen Überblick über die Algorithmen, Methoden und Werkzeuge, um diesen Herausforderungen zu begegnen. Die mathematisch exakte Formlierung der Testaufgabe zieht sich dabei als roter Faden durch das ganze Buch,von der Fehlermodellierung bis hin zum testfreundlichen Schaltungsentwurf.

Inhaltsverzeichnls.- 1 Einführung und Abgrenzung.- 1.1 Testen im Produktionsablauf.- 1.2 Begriffsklärung und Abgrenzung.- 2 Fehlermodelle.- 2.1 Funktionsfehlermodell.- 2.2 Haftfehlermodell.- 2.3 CMOS-Unterbrechungsfehler.- 2.4 Verzögerungsfehler.- 3 Testmusterberechnung.- 3.1 Testmusterberechnung für kombinatorische Schaltungen.- 3.2 Testmusterberechnung für sequentielle Schaltungen.- 4 Fehlersimulation.- 4.1 Simulationsmethoden.- 4.2 Serielle Fehlersimulation.- 4.3 Fehlerparallele Fehlersimulation.- 44 Musterparallele Fehlersimulation.- 4.5 Deduktive Fehlersimulation.- 4.6 Nebenläufige Fehlersimulation.- 4.7 Simulation it einer Fehlerstichprobe.- 5 Testbarkeitsanalyse.- 5.1 Steuerbarkeit, Beobachtbarkeit, und Testbarkeit kombinatorischer Schaltungen.- 5.2 Statistische Verfahren zur Testbarkeitsanalyse.- 5.3 Probabilistische Verfahren.- 5.4 Charakterisierung schwer erkennbarer Fehler.- 6 Testfreundlicher Entwurf.- 6.1 Testfreundlicher Entwurf zur Vereinfachung der Fehlermodellierung.- 6.2 Testfreundlicher Entwurf zur Vereinfachung der Testanwendung.- 6.3 Testfreundlicher Entwurf zur Vereinfachung der Testmusterberechnung.- 7 Selbsttest integrierter Schaltungen.- 7.1 Architektur selbsttestender Schaltungen.- 7.2 Testmustergeneratoren für den eingebauten Selbsttest.- 7.3 Testdatenkompression.- 7.4 Blockselbsttestverfahren.- A1 Hypergeometrisch und binomial verteilte Zufallsvariable.- A2 Wahrscheinlichkeitsfunktion und Momente betavermeilter Zufallsvariabler.- A3 Primitive Polynome bis zum Grad 258.- Literatur.

Erscheint lt. Verlag	19.10.2011
Reihe/Serie	Mikroelektronik
Zusatzinfo	XI, 219 S.
Verlagsort	Berlin
Sprache	deutsch
Maße	155 x 235 mm
Gewicht	364 g
Themenwelt	Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik
Schlagworte	Automatische Testmusterberechnung • CMOS • Fehlermodellierung • Fehlersimulation • Generatoren • Komplexität • Mikroelektronik • Produktion • Schaltung • Schaltungsentwurf • Simulation • VLSI • Zuverlässigkeit
ISBN-10	3-642-64456-2 / 3642644562
ISBN-13	978-3-642-64456-6 / 9783642644566
Zustand	Neuware