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Optical System Contamination

Effects, Measurements, and Control 2010: 2-5 August 2010, San Diego, California, United States
Microfilm
248 Seiten
2010
SPIE Press (Hersteller)
978-0-8194-8290-7 (ISBN)
CHF 159,85 inkl. MwSt
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Erscheint lt. Verlag 15.11.2010
Zusatzinfo illustrations
Verlagsort Bellingham
Sprache englisch
Maße 152 x 229 mm
Themenwelt Technik Fahrzeugbau / Schiffbau
Technik Luft- / Raumfahrttechnik
ISBN-10 0-8194-8290-0 / 0819482900
ISBN-13 978-0-8194-8290-7 / 9780819482907
Zustand Neuware
Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR)
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