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Intermittent Failures in Integrated Circuits

Detection, Characterization and Fault Tolerance

Alodeep Sanyal, Sandip Kundu, Ilia Polian (Autoren)

Buch | Hardcover

300 Seiten

2016 | 2015 ed.
Springer-Verlag New York Inc.
978-1-4419-8314-5 (ISBN)

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Intermittent Failures in Integrated Circuits

This book presents a consolidated study of the entire class of intermittent failures by analyzing the root causes behind these errors, their efficient detection and characterization, and finally fault tolerant design techniques at various layers of abstraction (from transistor to architecture) to improve reliability of system operation in presence of intermittent errors.

Fundamentals of VLSI Testing.- Circuit Marginality and Noise Sources.- Fault Modeling for Intermittent Errors.- Automatic Test Pattern Generation.- Design-for-Testability.- Test Economics and Cost-Benefit Analysis.- Layout Level Fault Tolerance.- Circuit Level Fault Tolerance.- Gate Level Fault Tolerance.- System Level Fault Tolerance.- Information Level Fault Tolerance.

Erscheint lt. Verlag	6.1.2016
Zusatzinfo	biography
Verlagsort	New York, NY
Sprache	englisch
Themenwelt	Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik
Themenwelt	Technik ► Umwelttechnik / Biotechnologie
ISBN-10	1-4419-8314-7 / 1441983147
ISBN-13	978-1-4419-8314-5 / 9781441983145
Zustand	Neuware