VLSI Test Symposium (Vts 2000) Proceedings
2000
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2000, 18th ed.
Institute of Electrical & Electronics Engineers(IEEE) (Hersteller)
978-0-7695-0615-9 (ISBN)
Institute of Electrical & Electronics Engineers(IEEE) (Hersteller)
978-0-7695-0615-9 (ISBN)
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| Erscheint lt. Verlag | 1.5.2000 |
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| Sprache | englisch |
| Themenwelt | Technik |
| ISBN-10 | 0-7695-0615-1 / 0769506151 |
| ISBN-13 | 978-0-7695-0615-9 / 9780769506159 |
| Zustand | Neuware |
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