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Statistical Analysis of Spatial Pattern

(Autor)

Buch | Hardcover
104 Seiten
1976 | 1975 ed.
Chapman and Hall (Verlag)
978-0-412-14290-1 (ISBN)
CHF 125,65 inkl. MwSt
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In a contribution (Bartlett, 1971 a) to the Symposium on Statistical Ecology at Yale in 1969, I noted in my introductory remarks that that paper was not intended to be in any way a review of statistical techniques for analysing spatial patterns. My contribution to a conference at Sheffield in 1973 aimed, at least in part, to supply such a review and forms the basis of this monograph; but in these prefatory remarks I must still make clear what I decided to discuss, and what I have omitted. Broadly speaking, the coverage is that included in seminars and lectures I have given on this theme since 1969. We may divide problems of spatial pattern (in contrast with complete random chaos) into (i) detecting departures from randomness, Oi) analysing such departures when detected, for example, in relation to some stochastic model and (iii) special problems which require separate consideration; for example, sophisticated problems of pattern recognition in specific fields, such as the computer reading of handwriting or recognition of chromosomes.
Erscheint lt. Verlag 11.3.1976
Reihe/Serie Monographs on Applied Problems & Statistics
Verlagsort London
Sprache englisch
Maße 140 x 220 mm
Themenwelt Schulbuch / Wörterbuch
Mathematik / Informatik Mathematik Statistik
Naturwissenschaften
ISBN-10 0-412-14290-2 / 0412142902
ISBN-13 978-0-412-14290-1 / 9780412142901
Zustand Neuware
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