Zielorientierte Methodiken zum Bestehen der Europäischen Eignungsprüfung (EEP)

Patentrechtliche Grundlagen für Teile A, B, C, D

Daniel Herrmann (Autor)

Buch | Softcover

223 Seiten

2017
C.H.Beck (Verlag)
9783406707896 (ISBN)

Infos

Zum WerkF r alle Teilnehmer der Europ ischen Eignungspr fung (EEP) bietet das neue Werk zielorientierte Methodiken zum Bestehen der EEP in den Teilen A, B, C und D. Alle pr fungsrelevanten Themen sind in deutscher und englischer Sprache synoptisch dargestellt. Besonderes Gewicht wird auf inhaltlich gut strukturierte Hilfestellungen gelegt.Besonders hilfreich: Immer dort, wo es f r die Methodiken n tig ist, sind auch patentrechtliche Grundlagen erl utert. Dabei wird jeweils auf Gesetze, Rechtsprechung und Pr fungsrichtlinien verwiesen.Vorteile auf einen Blick- Schritt-f r-Schritt Vorgehensweisen- Zeitangaben pro Bearbeitungsschritt- Details der Punktevergabe- Pr fungsschemata f r patentrechtliche Fragen- Formulierungsvorschl ge und ganze Textpassagen- Tabellen als Bearbeitungshilfen- praktische Tipps f r die Pr fungZielgruppe:F r Teilnehmer der Europ ischen Eignungspr fung.

Produkt-Details

• Erscheinungsdatum: 25.01.2017
• Sprache: englisch; deutsch
• Maße: 210 x 297 mm
• Gewicht: 668 g
• Themenwelt: Recht / Steuern ► Wirtschaftsrecht ► Urheberrecht
• Schlagworte: Eignungsbeurteilung • Europäische • Europäische Eignungsprüfung • Europarecht (EuR) • Patentanwalt • Patentanwaltskandidat • Patentrecht
• ISBN-13: 9783406707896 / 9783406707896
• Zustand: Neuware