Einführung in die Statistik
Seiten
2004
|
4., durchges. Aufl.
Vieweg & Teubner (Verlag)
978-3-519-32071-5 (ISBN)
Vieweg & Teubner (Verlag)
978-3-519-32071-5 (ISBN)
- Titel erscheint in neuer Auflage
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Beschreibende Statistik - Messreihen und Maßzahlen - Grundbegriffe der Wahrscheinlichkeitstheorie - Wahrscheinlichkeitsräume - Zufallsvariablen und Verteilungsfunktionen - Gesetze der großen Zahlen und Grenzwertsätze - Zentralsatz der Statistik - Schließende Statistik - Schätzverfahren und ihre Eigenschaften - Maximum-Likelihood-Methode - Einfache Varianzanalyse - Einfache lineare Regression
Prof. Dr. Jürgen Lehn, TU Darmstadt Prof. Dr. Helmut Wegmann, TU Darmstadt
| Reihe/Serie | Teubner Studienbücher Mathematik |
|---|---|
| Sprache | deutsch |
| Maße | 137 x 205 mm |
| Einbandart | Paperback |
| Schlagworte | Lineare Regression • Maximum-Likelihood-Methode • Messreihen • Messreihen und Messtechnik • Messtechnik • Schätzverfahren • Statistik; Hand-/Lehrbücher • Varianzanalyse • Wahrscheinlichkeitsräume • Warscheinlichkeitstheorie • Washrscheinlichkeitstheorie |
| ISBN-10 | 3-519-32071-1 / 3519320711 |
| ISBN-13 | 978-3-519-32071-5 / 9783519320715 |
| Zustand | Neuware |
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