X-Ray Microscopy II
Proceedings of the International Symposium, Brookhaven, NY, August 31 - September 4, 1987
1988
Springer Berlin (Hersteller)
978-3-540-19392-0 (ISBN)
Springer Berlin (Hersteller)
978-3-540-19392-0 (ISBN)
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| Reihe/Serie | Springer Series in Optical Sciences ; 56 |
|---|---|
| Zusatzinfo | 306 figs. XIV,454 pages. |
| Verlagsort | Berlin |
| Sprache | englisch |
| Gewicht | 800 g |
| Einbandart | gebunden |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Optik |
| ISBN-10 | 3-540-19392-8 / 3540193928 |
| ISBN-13 | 978-3-540-19392-0 / 9783540193920 |
| Zustand | Neuware |
| Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR) | |
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