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Electron Microscopy Studies of Ion Implanted Silicon - K Seshan

Electron Microscopy Studies of Ion Implanted Silicon

Buch | Hardcover
108 Seiten
2025
Hutson Street Press (Verlag)
978-1-02-515224-0 (ISBN)
CHF 41,80 inkl. MwSt
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Erscheinungsdatum
Sprache englisch
Maße 156 x 234 mm
Gewicht 331 g
Themenwelt Naturwissenschaften Physik / Astronomie Atom- / Kern- / Molekularphysik
Technik Elektrotechnik / Energietechnik
ISBN-10 1-02-515224-7 / 1025152247
ISBN-13 978-1-02-515224-0 / 9781025152240
Zustand Neuware
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