Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces
Seiten
2025
KIT Scientific Publishing (Verlag)
978-3-7315-1402-2 (ISBN)
KIT Scientific Publishing (Verlag)
978-3-7315-1402-2 (ISBN)
Retroreflex ellipsometry addresses the geometric restrictions of conventional ellipsometry by using a retroreflective sheet, which returns the light beam from the sample on the same beam path. Simulation and experiments of retroreflex ellipsometry in two- and three-phase systems have been demonstrated based on the proposed concepts, which have shown the capabilities of ellipsometric measurements on nonplanar surfaces.
| Erscheinungsdatum | 30.04.2025 |
|---|---|
| Reihe/Serie | Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung ; 24 |
| Zusatzinfo | graph. Darst. |
| Sprache | englisch |
| Maße | 148 x 210 mm |
| Gewicht | 400 g |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Elektrodynamik |
| Schlagworte | curved surfaces • Dünnschicht- Messtechnik • Ellipsometrie • Ellipsometry • gekrümmte Oberflächen • Mueller Matrix • Müller-Matrix • Retroreflex-Ellipsometrie • Retroreflex ellipsometry • Thin-film metrology |
| ISBN-10 | 3-7315-1402-8 / 3731514028 |
| ISBN-13 | 978-3-7315-1402-2 / 9783731514022 |
| Zustand | Neuware |
| Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR) | |
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