XAFS-Fehleranalyse

Abdelhafid Mimouni (Autor)

Buch | Softcover

60 Seiten

2025
Verlag Unser Wissen
978-620-8-67906-4 (ISBN)

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Dieses Buch untersucht eingehend die Fehleranalyse in XAFS (X-ray Absorption Fine Structure), die für die Gewährleistung der Zuverlässigkeit experimenteller Ergebnisse von entscheidender Bedeutung ist. Im ersten Kapitel werden Fehler in XAFS definiert, wobei zwischen statistischen und systematischen Fehlern unterschieden wird, und es wird untersucht, wie sich diese Fehler auf die Ergebnisse auswirken. Das zweite Kapitel konzentriert sich auf statistische Fehler und erläutert, wie diese mithilfe verschiedener Methoden wie der Subtraktion einer geglätteten Funktion und der Poisson-Statistik geschätzt werden können. Das dritte Kapitel befasst sich mit systematischen Fehlern, indem es ihre Quellen identifiziert und Methoden zu ihrer Schätzung und Handhabung vorschlägt. Das vierte Kapitel befasst sich mit der Schätzung und dem Verhältnis von Vertrauensgrenzen und beschreibt standardisierte Verfahren zur Bewertung der Qualität von Anpassungen. Im fünften Kapitel schließlich werden die Qualität des Fits und das Signal-Rausch-Verhältnis analysiert, wobei Methoden zur Bewertung des S/N und zur Interpretation der Ergebnisse angeboten werden. Dieser praktische Leitfaden wurde entwickelt, um die Genauigkeit und Transparenz bei der Analyse von XAFS-Daten zu verbessern.

Als unabhängiger Forscher im Bereich der bioinorganischen Chemie ist Dr. Mimouni Experte für makromolekulare Synthese und Charakterisierung. Er promovierte 1997 in Chemie an der Universität Paris XII, nachdem er 1993 ein Diplôme des Études Approfondies en Systèmes Bioinorganiques an der Universität Paris XI erworben hatte, wo er auch seinen Bachelor und Maîtrise in Chemie machte.

Erscheinungsdatum	01.03.2025
Sprache	deutsch
Maße	152 x 229 mm
Gewicht	95 g
Themenwelt	Naturwissenschaften ► Chemie ► Physikalische Chemie
Schlagworte	- Anpassungen • - Chi-Deux ( ²) • - Elektronischer Rauschfehler • - EXAFS (Extended X-ray Absorption Fine Structure) • - Kalibrierung • - Normalisierung • - Signal-Rausch-Verhältnis (S/N) • - Statistischer Fehler • - Strahlschwankungsfehler • - Systemfehler • - Vertrauensgrenzen • - Zählfehler
ISBN-10	620-8-67906-0 / 6208679060
ISBN-13	978-620-8-67906-4 / 9786208679064
Zustand	Neuware