Nanoscale Characterization of Expoxy Interphase on Copper Microstructures
Seiten
2006
Wirtschaftsverlag N. W. Verlag für neue Wissenschaft
978-3-86509-514-5 (ISBN)
Wirtschaftsverlag N. W. Verlag für neue Wissenschaft
978-3-86509-514-5 (ISBN)
- Titel ist leider vergriffen;
keine Neuauflage - Artikel merken
- 15
| Reihe/Serie | BAM - Dissertationsreihe ; 15 |
|---|---|
| Sprache | englisch |
| Maße | 165 x 235 mm |
| Gewicht | 190 g |
| Einbandart | Paperback |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Allgemeines / Lexika |
| Schlagworte | HC/Physik, Astronomie/Allgemeines, Lexika |
| ISBN-10 | 3-86509-514-3 / 3865095143 |
| ISBN-13 | 978-3-86509-514-5 / 9783865095145 |
| Zustand | Neuware |
| Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR) | |
| Haben Sie eine Frage zum Produkt? |
Mehr entdecken
aus dem Bereich
aus dem Bereich
die kritische Instanz der modernen Physik
Buch | Softcover (2025)
Springer Berlin (Verlag)
CHF 20,95
für Studierende der Naturwissenschaften und Technik
Buch (2024)
Springer Spektrum (Verlag)
CHF 109,95
