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Optische Eigenschaften von Erbium in Si/Si1-xCx, Si/Si1-xGex und Si/Si0x Heterostrukturen

Buch | Softcover
182 Seiten
2003 | 1., Aufl.
Verein zur Förderung des Walter Schottky Instituts der Technischen Universität München (Verlag)
978-3-932749-41-4 (ISBN)

Lese- und Medienproben

CHF 20,95 inkl. MwSt
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Reihe/Serie Selected Topics of Semiconductor Physics and Technology ; 41
Sprache deutsch
Maße 150 x 210 mm
Einbandart kartoniert
Themenwelt Naturwissenschaften Physik / Astronomie Atom- / Kern- / Molekularphysik
Schlagworte Festkörperphysik • Halbleiterphysik • HC/Physik, Astronomie/Atomphysik, Kernphysik
ISBN-10 3-932749-41-3 / 3932749413
ISBN-13 978-3-932749-41-4 / 9783932749414
Zustand Neuware
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