Korrelation zwischen Mikrostruktur und elektrischem Widerstand in flüssigphasengesintertem Siliciumcarbid untersucht mittels Transmissionselektronenmikroskopie
Seiten
2003
|
1., Aufl.
Utz, Herbert (Verlag)
978-3-8316-0192-9 (ISBN)
Utz, Herbert (Verlag)
978-3-8316-0192-9 (ISBN)
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| Reihe/Serie | Institut für Materialforschung - Bayreuth |
|---|---|
| Zusatzinfo | 66 Abb., 15 Tab. |
| Sprache | deutsch |
| Maße | 145 x 205 mm |
| Gewicht | 175 g |
| Einbandart | Paperback |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Chemie ► Physikalische Chemie |
| Schlagworte | Siliciumcarbid • Transmissionselektronenmikroskopie |
| ISBN-10 | 3-8316-0192-5 / 3831601925 |
| ISBN-13 | 978-3-8316-0192-9 / 9783831601929 |
| Zustand | Neuware |
| Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR) | |
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