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Réalisation et étude de structure en couches minces

(Autor)

Buch | Softcover
124 Seiten
2020
Editions Universitaires Europeennes (Verlag)
978-613-9-57346-2 (ISBN)
CHF 82,45 inkl. MwSt
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Ce livre est consacré à l'étude de la cristallisation des couches minces de silicium amorphe induit par un métal : Nickel. La diffusion du nickel dans les couches minces de silicium est recherchée de façon à conduire à la formation de siliciure de Ni qui a permis de cristalliser le silicium amorphe en couche mince qui a été déposée par la technique PECVD.Dans un premier temps nous avons présenté le silicium comme matière de base, le silicium poreux ainsi que les différentes méthodes de croissance des couches minces et leurs techniques de cristallisation.Dans un second temps nous avons présenté en détaille les conditions de préparation des échantillons :1. Elaboration du silicium poreux par la méthode d'anodisation électrochimique.2. Métallisation su silicium poreux par une solution de Nickel de concentration bien déterminer (Dip-coting).3. Dépôt d'une couche de a-si : H par la technique PECVD.4. La cristallisation des échantillons a été réalisée dans un four RTP.Dans la partie suivante de ce livre nous sommes intéressée à l'étude des couches minces de a-Si : H métallisé par Ni.

Sonia, Ben Slama Mme Ben Slama Sonia est titulaire d'un diplôme de Docteur de l'Université de Tunis El Manar.

Erscheinungsdatum
Sprache französisch
Maße 152 x 229 mm
Gewicht 194 g
Themenwelt Naturwissenschaften Physik / Astronomie Theoretische Physik
Schlagworte application photovoltaïque • couches minces • Silicium
ISBN-10 613-9-57346-7 / 6139573467
ISBN-13 978-613-9-57346-2 / 9786139573462
Zustand Neuware
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