Electron Back Scatter Diffraction
Seiten
2001
Springer-Verlag New York Inc.
978-0-387-91621-7 (ISBN)
Springer-Verlag New York Inc.
978-0-387-91621-7 (ISBN)
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Electron back scatter diffraction (EBSD) is an immensely powerful method of characterizing microstructure. The technique is used in many scanning electron microscopes to examine the structure, pattern, and orientation of samples and is an important tool in materials science, physics, and earth science labs. This up-to-date, comprehensive introduction covers the theory of EBSD, pattern formation, recording EBSD patterns, calibration, and orientation measurement.
| Erscheint lt. Verlag | 1.1.2010 |
|---|---|
| Zusatzinfo | Illustrations |
| Verlagsort | New York |
| Sprache | englisch |
| Einbandart | Paperback |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Allgemeines / Lexika |
| ISBN-10 | 0-387-91621-0 / 0387916210 |
| ISBN-13 | 978-0-387-91621-7 / 9780387916217 |
| Zustand | Neuware |
| Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR) | |
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