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Rückgeführte, hochgenaue Größenmessung von Nanopartikeln im Transmissionsmodus eines Rasterelektronenmikroskops

(Autor)

Buch
212 Seiten
2015
Fachverlag NW in Carl Ed. Schünemann KG
9783956060922 (ISBN)

Lese- und Medienproben

Rückgeführte, hochgenaue Größenmessung von Nanopartikeln im Transmissionsmodus eines Rasterelektronenmikroskops - Tobias Klein
CHF 31,45 inkl. MwSt
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Opt-74: T. Klein:

Rückgeführte, hochgenaue Größenmessung von Nanopartikeln im Transmissionsmodus eines Rasterelektronenmikroskops
212 S., 97 Abb., 26 Tab., ISBN 978-3-95606-092-2, 2014 € 22,50
Es wird das sogenannte TSEM-Verfahren zur hochgenauen, rückgeführten Größenmessung von Nanopartikeln vorgestellt, das auf der Detektion der durch die Probe hindurchtretenden Elektronen in einem Rasterelektronenmikroskop basiert. Die Rückführbarkeit wird durch die Kalibrierung der Pixelgröße mit Hilfe von rückgeführt vermessenen zweidimensionalen Gittern sichergestellt. Durch die Automatisierung sowohl der Aufnahme als auch der Auswertung der TSEM-Bilder können tausende Partikel in akzeptabler Zeit vermessen werden.
Reihe/Serie PTB-Berichte. Optik (Opt) ; 74
Verlagsort Bremen
Sprache deutsch
Maße 210 x 297 mm
Gewicht 668 g
Einbandart Paperback
Themenwelt Naturwissenschaften Physik / Astronomie Optik
Schlagworte Optik • PTB • Rasterelektronenmikroskop
ISBN-13 9783956060922 / 9783956060922
Zustand Neuware
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