Radiation Effects in Semiconductors and Semiconductor Devices
Seiten
2012
|
Softcover reprint of the original 1st ed. 1977
Springer-Verlag New York Inc.
978-1-4684-9071-8 (ISBN)
Springer-Verlag New York Inc.
978-1-4684-9071-8 (ISBN)
one.- I The Theory of the Formation and Nature of Radiation-Induced Defects.- II Experimental Study of Radiation Defects in Semiconductors and Control of Semiconductor Properties by Irradiation.- III Ionization in Semiconductors as a Result of the Stopping of Charged Particles, Absorption and Scattering of Photons.- Two.- I Radiation Effects in Transistors.- II Radiation Effects in Semiconductor Diodes.- III Effect of Pulsed Radiation on Semiconductor Devices.
| Erscheint lt. Verlag | 26.11.2012 |
|---|---|
| Zusatzinfo | 98 Illustrations, black and white; 280 p. 98 illus. |
| Verlagsort | New York, NY |
| Sprache | englisch |
| Maße | 140 x 216 mm |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Chemie ► Analytische Chemie |
| Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Atom- / Kern- / Molekularphysik | |
| Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Festkörperphysik | |
| ISBN-10 | 1-4684-9071-0 / 1468490710 |
| ISBN-13 | 978-1-4684-9071-8 / 9781468490718 |
| Zustand | Neuware |
| Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR) | |
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