X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films
Springer Berlin (Verlag)
978-3-662-14218-9 (ISBN)
Metin Tolan, 1965 als Sohn deutsch-türkischer Eltern in Oldenburg geboren, ist er seit 2001 Professor für Experimentelle Physikan der Technischen Universität Dortmund. Seine Leidenschaften sind Physik, Fußball und James-Bond-Filme. Die Vorträge, die er über diese aufregende Mischung hält, werden vom Publikum gefeiert.
Reflectivity of x-rays from surfaces.- Reflectivity experiments.- Advanced analysis techniques.- Statistical description of interfaces.- Off-specular scattering.- X-ray scattering with coherent radiation.- Closing remarks.
"The book is well referenced and clearly conveys materials systems and behavior that are amenable to characterization by thin-film scattering techniques. It should be an asset to any research group beginning, or currently involved in, the characterization of thin films by x-ray diffraction."
Physics Today, 2000/2
| Erscheint lt. Verlag | 3.10.2013 |
|---|---|
| Reihe/Serie | Springer Tracts in Modern Physics |
| Zusatzinfo | IX, 198 p. 28 illus. |
| Verlagsort | Berlin |
| Sprache | englisch |
| Maße | 155 x 235 mm |
| Gewicht | 332 g |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Chemie ► Analytische Chemie |
| Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Festkörperphysik | |
| Technik ► Maschinenbau | |
| Schlagworte | Materials Science • Polymer • scattering • Surface • Thin Films |
| ISBN-10 | 3-662-14218-X / 366214218X |
| ISBN-13 | 978-3-662-14218-9 / 9783662142189 |
| Zustand | Neuware |
| Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR) | |
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