Blick ins Buch

Höchstauflösende Kraftmikroskopie mit subatomar definierten Bindungszuständen

Joachim Welker (Autor)

Buch | Softcover

146 Seiten

2013
Universitätsverlag Regensburg
9783868450965 (ISBN)

Lese- und Medienproben

Inhaltsverzeichnis (PDF)

Titel ist leider vergriffen;
keine Neuauflage

Artikel merken

Rastersondenmikroskopie ist heute eine wichtige analytische Methode in der Oberflächenphysik. Im Rastersondenmikroskop wird eine atomar scharfe Spitze in einem Abstand von wenigen hundert Pikometer über eine Probe geführt und die Wechselwirkung zwischen Spitze und Probe gemessen. Hochauflösende Rasterkraftmikroskopie ist in der Lage subatomare Strukturen abzubilden. In dieser Arbeit wird eine Methode zur Charakterisierung des Bindungszustands der Spitze vorgestellt. Dafür wird die Entwicklung der chemischen Bindungskraft zwischen einem Wolfram-Spitzenatom und einem Kohlenmonoxid-Molekül quantitativ untersucht. Je nach Orientierung der Wolfram-Spitze zeigt sich eine subatomare Winkelabhängigkeit der Bindungskraft. Die Orientierung der Spitze kann verändert werden, um einen Bindungszustand mit einer bestimmten Symmetrie zu erhalten. Mit dieser Methode wird der Einfluss des Bindungszustands auf die Kraftmessung an einer Silizium-Probe untersucht.

Erscheint lt. Verlag	21.3.2013
Reihe/Serie	Dissertationsreihe Physik ; 30
Zusatzinfo	4 schw.-w. u. 53 farb. Abb.
Sprache	deutsch
Maße	170 x 240 mm
Gewicht	368 g
Themenwelt	Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Festkörperphysik
Themenwelt	Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Theoretische Physik
Schlagworte	Bindungszustand • chemische Bindungskraft • Kohlenmonoxid • Oberflächenphysik • Rastersondenmikroskopie • Silizium • subatomare Strukturen • Wolfram-Spitzenatom
ISBN-13	9783868450965 / 9783868450965
Zustand	Neuware