Modern X-Ray Analysis on Single Crystals
Seiten
1980
|
1. Reprint 2011
De Gruyter (Verlag)
978-3-11-006830-6 (ISBN)
De Gruyter (Verlag)
978-3-11-006830-6 (ISBN)
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Frontmatter -- Preface -- Acknowledgement -- Contents -- 1 Theoretical Basis -- 2 Preliminary Experiments -- 3 Crystal Symmetry -- 4 Diffractometer Measurements -- 5 Solution of the Phase Problem -- 6 Refinement -- Index -- Backmatter
Frontmatter -- Preface -- Acknowledgement -- Contents -- 1 Theoretical Basis -- 2 Preliminary Experiments -- 3 Crystal Symmetry -- 4 Diffractometer Measurements -- 5 Solution of the Phase Problem -- 6 Refinement -- Index -- Backmatter
| Erscheint lt. Verlag | 1.4.1980 |
|---|---|
| Zusatzinfo | Num. figs. |
| Verlagsort | Berlin/Boston |
| Sprache | englisch |
| Maße | 155 x 230 mm |
| Gewicht | 712 g |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Festkörperphysik |
| Schlagworte | Chemistry • Feinstrukturanalyse • Kristallstrukturanalyse • Röntgenkristallographie • Röntgenstrukturanalyse • X-ray crystallography |
| ISBN-10 | 3-11-006830-3 / 3110068303 |
| ISBN-13 | 978-3-11-006830-6 / 9783110068306 |
| Zustand | Neuware |
| Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR) | |
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