Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS-II.

Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA, August 27-31, 1979

Alfred Benninghoven, C. A. jr Evans, R. A. Powell, R. Shimizu, H. A. Storms (Herausgeber)

1979
Springer Berlin (Hersteller)
978-3-540-09843-0 (ISBN)

Produkt-Details

• Zusatzinfo: 234 figs., 21 tab. XIII,298 pages.
• Verlagsort: Berlin
• Sprache: englisch
• Gewicht: 745 g
• Einbandart: gebunden
• Themenwelt: Naturwissenschaften ► Chemie ► Analytische Chemie
• Themenwelt: Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie
• ISBN-10: 3-540-09843-7 / 3540098437
• ISBN-13: 978-3-540-09843-0 / 9783540098430
• Zustand: Neuware