Intensive Elektronen- und Ionenstrahlen
Vieweg & Teubner (Verlag)
9783322831378 (ISBN)
Handbuch für Physiker und TechnikerThis book introduces Time-Of-Flight Range-Imaging (TOF), an emerging sensor technology that delivers, at the same time, depth and intensity maps of the scene under observation. Reviews the entire acquisiton and processing chain, and discusses new applications.
1 Formierung intensiver Elektronen- und Ionenstrahlen.- 1.1 Strahlparameter und Klassifikation von teilchenoptischen Systemen.- 1.2 Formierung von Elektronenstrahlen in elektronischen Geräten.- 1.3 Fokussierende (transportierende) Systeme.- 1.4 Elektronenoptische Systeme in technologischen Elektronenstrahlanalgen.- 1.5 Ionenoptische Systeme.- 2 Methoden der Feldberechnung elektronenoptischer Systeme.- 2.1 Grundlegende Gleichungen für das elektrostatische Feld.- 2.2 Berechnung elektrostatischer Felder. Das Dirichlet-Problem.- 2.3 Berechnung elektrostatischer Felder. Das Cauchy-Problem.- 2.4 Computergestützte Berechnung elektrostatischer Felder.- 2.5 Grundlegende Gleichungen des magnetischen Feldes.- 3 Bewegung einfach geladener Teilchen.- 3.1 Allgemeine Bewegungsgleichungen.- 3.2 Bewegung von Teilchen in axialsymmetrischen Feldern.- 3.3 Bewegung von Teilchen in planparallelen Feldern.- 3.4 Numerische Berechnungsmethoden für Trajektorien geladener Teilchen.- 3.5 Elektrostatische Linsen.- 3.6 Magnetische Solenoidlinsen.- 3.7 Magnetische Linsen aus Permanentmagneten.- 4 Transport von Strömen geladener Teilchen.- 4.1 Besonderheiten des Transportes geladener Teilchen.- 4.2 Vereinfachte physikalische Modelle von Strömen geladener Teilchen.- 4.3 Gleichungssysteme in der hydrodynamischen Näherung.- 4.4 Genäherte Berechnung des Coulombfeldes.- 4.5 Strahltransportberechnung in feldfreien Kanälen.- 4.6 Der Einfluß positiver Ionen auf die Ausbreitung von Elektronenstrahlen.- 4.7 Streung von Elektronenstrahlen an Restgasmolekülen.- 4.8 Einfluß der Anfangsgeschwindigkeiten auf die Strahlkonfiguration.- 4.9 Lösungsmethodik selbstkonsistenter elektronenoptischer Aufgaben.- 5 Elektronenkanonen.- 5.1 Die Formierung von Elektronenstrahlen.- 5.2 Kanonen zur Formierung vonbandförmigen Strahlen.- 5.3 Kanonen zur Formierung dichter axialsymmetrischer Strahlen.- 5.4 Kanonen zur Formierung hohler axialsymmetrischer Strahlen.- 5.5 Elektronenkanonen mit Steuerelektroden.- 5.6 Rechnergestützte Projektierung von Elektronenkanonen.- 6 Kanonen mit Autoemissions- und Plasmaemittern.- 6.1 Grundlegende Eigenschaften und Kanonenparameter.- 6.2 Schwachstromelektronen- und Ionenkanonen mit Autoemissionskathoden.- 6.3 Starkstromelektronenkanonen mit Explosionsemissionskathoden.- 6.4 Elektronen- und Ionenplasmaquellen.- 6.5 Extraktion geladener Teilchen und Formierung von Teilchenstrahlen.- 7 Magnetisch fokussierende Systeme.- 7.1 Fokussierung voller axialsymmetrischer Strahlen im Magnetfeld.- 7.2 Systeme zur reversiven und periodischen Fokussierung.- 7.3 Fokussierung hohler axialsymmetrischer Strahlen.- 7.4 Systeme zur Fokussierung bandförmiger Elektronenstrahlen.- 7.5 Projektierung magnetisch fokussierender Systeme.- 8 Elektrostatisch fokussierende Systeme.- 8.1 Fokussierungssysteme für volle axialsymmetrische Strahlen.- 8.2 Fokussierungssysteme für bandförmige Strahlen.- 8.3 Fokussierung hohler axialsymmetrischer Strahlen.- 9 Elektronenoptische Sondensysteme.- 9.1 Elektronenoptische Systeme in Elektronenstrahl- schweißanlagen.- 9.2 Elektronenoptische Systeme der Elektronenstrahllithographie.- 9.3 Elektronenoptische Systeme von Anlagen zur Ionenimplantation.- 10 Transport intensiver relativistischer Strahlen geladener Teilchen.- 10.1 Relativistische Bewegungsgleichungen.- 10.2 Intensive relativistische Strahlen in Vakuumkanälen.- 10.3 Intensive neutralisierte Strahlen.- 10.4 Trajektorienanalyse relativistischer Elektronenstrahlen auf dem Computer.- 11 Elektronenoptische Vielstrahlensysteme.- 11.1 Besonderheiten und Anwendungsbereiche.- 11.2Vielstrahlelektronenkanonen und magnetisch fokussierende Systeme.- 11.3 Besonderheiten der Formierung von Vielstrahlenelektronenflüssen.- 11.4 Wechselwirkung von Elektronenstrahlen.- 12 Elektronen- und Ionenstrahldiagnostik.- 12.1 Die Messung von Strahlparametern.- 12.2 Klassifikation und Charakteristik experimenteller Methoden.- 12.3 Beweglicher Kollektor mit geringer Appertur.- 12.4 Koaxiale Sonden mit Halbleitertarget.- A Emittanz und Brigthness.- A.1 Emittanz.- A.2 Brightness.- A.3 Mittlere quadratische Emittanz.- B Kommentierte FORTRAN-Programmtexte.- B.1 Berechnung der Induktivität eines Solenoiden.- B.2 Feldberechnung einer ringförmigen Magnetlinse.- B.3 Feldberechnung einer elektrostatischen Linse.- B.4 Graphische Darstellung der Resultate.
| Erscheint lt. Verlag | 28.1.2012 |
|---|---|
| Co-Autor | Günter Zschornack |
| Übersetzer | Günter Zschornack |
| Zusatzinfo | X, 313 S. |
| Verlagsort | Wiesbaden |
| Sprache | deutsch |
| Maße | 170 x 240 mm |
| Gewicht | 551 g |
| Themenwelt | Medizinische Fachgebiete ► Radiologie / Bildgebende Verfahren ► Radiologie |
| Naturwissenschaften ► Chemie ► Physikalische Chemie | |
| Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Angewandte Physik | |
| Technik | |
| Schlagworte | Computer • Physik • Strahlenphysik • Werkstoff |
| ISBN-13 | 9783322831378 / 9783322831378 |
| Zustand | Neuware |
| Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR) | |
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