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Improving Tests for Discrete Small Sample Data - Nobuhiro Taneichi, Yuri Sekiya

Improving Tests for Discrete Small Sample Data

Online Resource
X, 124 Seiten
2026
Springer Singapore (Hersteller)
978-981-95-5301-3 (ISBN)
CHF 74,85 inkl. MwSt
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Erscheint lt. Verlag 7.2.2026
Reihe/Serie JSS Research Series in Statistics
Mathematics and Statistics
Mathematics and Statistics (R0)
SpringerBriefs in Statistics
Zusatzinfo X, 124 p. 1 illus.
Verlagsort Singapore
Sprache englisch
Themenwelt Mathematik / Informatik Mathematik Wahrscheinlichkeit / Kombinatorik
Schlagworte asymptotic expansion • Contingency table • discrete data • GLIM • Improved Transformation • Independence • Log-linear Model • Phi-Divergence Statistics • Small Sample • sparse data
ISBN-10 981-95-5301-6 / 9819553016
ISBN-13 978-981-95-5301-3 / 9789819553013
Zustand Neuware
Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR)
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