Zum Hauptinhalt springen
Nicht aus der Schweiz? Besuchen Sie lehmanns.de
Principes fondamentaux et applications de la microscopie à force atomique - Dr Vanarajsinh Solanki, Dr Abhay Dasadiya, Dr Pramita Mishra

Principes fondamentaux et applications de la microscopie à force atomique

Buch | Softcover
52 Seiten
2022
International Book Market Service Ltd (Verlag)
978-620-4-69804-5 (ISBN)
CHF 59,80 inkl. MwSt
  • Keine Verlagsinformationen verfügbar
  • Artikel merken
Ce livre se concentre sur le principe de fonctionnement de l'AFM, ses différents modes (c'est-à-dire les modes contact, non contact et tapotement), l'analyse de certains résultats AFM et quelques applications également. Ce livre souligne également les caractéristiques de l'AFM en tant qu'outil morphologique très polyvalent et utile pour scanner une grande variété de surfaces, avec une résolution planaire allant du nano -mètre à l'échelle atomique. Nous espérons que ce livre pourra aider les chercheurs et les étudiants à comprendre le concept de base de l'AFM et à l'utiliser pour différents types d'échantillons.

Vanaraj Solanki a obtenu son master (M.Sc) en physique (2008) à l'Université S. P., VVNagar, et son doctorat à l'Institut de physique, Bhubaneswar, Inde. Il a également travaillé au Materials Research Centre, Indian Institute of Science, Bangalore, pendant son postdoc. Actuellement, le Dr Solanki travaille en tant que chercheur scientifique à KRADLE, CHARUSAT, Changa.

Erscheinungsdatum
Verlagsort Beau Bassin
Sprache französisch
Maße 152 x 229 mm
Gewicht 92 g
Themenwelt Mathematik / Informatik Informatik Betriebssysteme / Server
Schlagworte microscopie à force atomique
ISBN-10 620-4-69804-4 / 6204698044
ISBN-13 978-620-4-69804-5 / 9786204698045
Zustand Neuware
Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR)
Haben Sie eine Frage zum Produkt?
Mehr entdecken
aus dem Bereich

von Christian Immler

Buch | Softcover (2024)
Markt + Technik (Verlag)
CHF 27,90