Grundlagen und Anwendungen der Rasterkraftmikroskopie

Dr Vanarajsinh Solanki, Dr Abhay Dasadiya, Dr Pramita Mishra (Autoren)

Buch | Softcover

52 Seiten

2022
International Book Market Service Ltd (Verlag)
978-620-4-69806-9 (ISBN)

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Dieses Buch konzentriert sich auf das Funktionsprinzip des AFM, seine verschiedenen Modi (d.h. Kontakt-, berührungslose und Klopfmodi), die Analyse einiger AFM-Ergebnisse und einige Anwendungen. Dieses Buch unterstreicht auch die Eigenschaften des AFM als vielseitiges und nützliches morphologisches Werkzeug zum Scannen einer großen Vielfalt von Oberflächen mit einer planaren Auflösung, die von Nanometerskalen bis hin zu atomaren Skalen reicht. Wir hoffen, dass dieses Buch für Forscher und Studenten hilfreich ist, um das Grundkonzept des AFM zu verstehen und es für verschiedene Arten von Proben einzusetzen.

Dr. Vanaraj Solanki erwarb seinen Master (M.Sc) in Physik (2008) an der S. P. University, VVNagar, und promovierte am Institute of Physics, Bhubaneswar, Indien. Während seiner Postdoc-Zeit arbeitete er auch am Materials Research Centre, Indian Institute of Science, Bangalore. Gegenwärtig arbeitet Dr. Solanki als Forschungswissenschaftler bei KRADLE, CHARUSAT, Changa.

Erscheinungsdatum	12.05.2023
Verlagsort	Beau Bassin
Sprache	deutsch
Maße	152 x 229 mm
Gewicht	92 g
Themenwelt	Mathematik / Informatik ► Informatik ► Betriebssysteme / Server
Schlagworte	Rasterkraftmikroskopie
ISBN-10	620-4-69806-0 / 6204698060
ISBN-13	978-620-4-69806-9 / 9786204698069
Zustand	Neuware