Test digitaler Schaltkreise

Stephan Eggersglüß, Görschwin Fey, Ilia Polian (Autoren)

Buch | Softcover

X, 228 Seiten | Ausstattung: Softcover & eBook

2014
De Gruyter Oldenbourg (Verlag)
978-3-486-79669-8 (ISBN)

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Embedded systems are assuming key control functions in everyday life. Systemic failure in the energy supply or the transport sector could lead to fatal consequences. Users place great reliance on the error-free function of such systems. Guaranteeing the functional capability of digital circuits is the goal of testing – and this aim must be achieved at low cost, since every chip has to be tested separately after production. Eingebettete Systeme übernehmen zentrale Steueraufgaben im täglichen Leben. In der Energieversorgung oder im Transportwesen würde ein Ausfall der Systeme fatale Auswirkungen haben. Der Nutzer verlässt sich aber auf ein fehlerfreies Funktionieren des Systems. Die Funktionstüchtigkeit der Schaltkreise zu garantieren, ist das Ziel des Testens – und das mit geringen Kosten, da jeder Chip nach der Produktion separat getestet werden muss.

Stephan Eggersglüß, Görschwin Fey, Ilia Polian

Zusatzinfo	Enthält eine Printausgabe und ein eBook
Verlagsort	Berlin
Sprache	deutsch
Maße	170 x 240 mm
Themenwelt	Informatik ► Weitere Themen ► Hardware
Schlagworte	digital • Digital Circuits • Digital circuit testing • Digital circuit testing; testing; digital circuits • Schaltkreis • Testen • Testing
ISBN-10	3-486-79669-0 / 3486796690
ISBN-13	978-3-486-79669-8 / 9783486796698
Zustand	Neuware