Adaptive Bayes’sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung

Ulrich Rendtel, Hans-Joachim Lenz (Autoren)

Buch | Softcover

IX, 231 Seiten

1990
Physica (Verlag)
9783790804683 (ISBN)

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In der Praxis tritt häufig der Fall auf, daß eine ganze Folge von Warenlosen des gleichen Artikels vom gleichen Anlieferer zu kontrollieren ist bzw. zur Zwischenkontrolle oder Endkontrolle vorgelegt wird. In dieser Situation existieren meistens ziemlich genaue Kenntnisse über Prüf-, Ersatz- und Garantiekosten eines Einzelstücks sowie Fixkosten für die Prüfung eines Loses. Auch über die Verteilung der Losschlechtanteile, die Prozeßkurve, sind in diesem Fall Kenntnisse vorhanden. In dieser Arbeit wird untersucht, wie durch die Analyse der Stichprobenergebnisse auf mögliche Änderungen der Prozeßkurve zu schließen ist. Signalisieren die Stichprobenergebnisse eine Änderung der Prozeßkurve, so soll anhand der verfügbaren Informationen die neue Prozeßkurve geschätzt werden, und ein neuer Prüfplan soll entsprechend dieser Prozeßkurve bayesoptimal gewählt werden. Die in dieser Arbeit entwickelten adaptiven Stichprobensysteme schneiden hinsichtlich der erwarteten Verluste bei Fehlentscheidungen über Prüfaufwand und Losannahme z.T. erheblich besser ab, sind einfacher zu handhaben und kommen mit einer geringeren Zahl von Prüfplanwechseln aus als herkömmliche Verfahren.

1. Einleitung und Überblick.- 2. Das Beobachtungs- und Kostenmodell.- 3. Die Bewertung von Prozesskurvenänderungen.- 4. Adaptive Stichprobensysteme zur Kontrolle der Prozeßkurve.- 5. Die Schätzung der Prozeßkurvenparameter.- 6. In der Praxis benutzte adaptive Stichprobensysteme.- 7. Die Erzeugung von Qualitätsgeschichten.- 8. Planung der Simulationsexperimente.- 9. Bestimmung der freien Parameter der Stichprobensysteme.- 10. Auswertung der Simulationsexperimente.- Literaturangaben.

Erscheint lt. Verlag	12.4.1990
Reihe/Serie	Arbeiten zur Angewandten Statistik
Zusatzinfo	IX, 231 S.
Verlagsort	Heidelberg
Sprache	deutsch
Maße	170 x 244 mm
Gewicht	411 g
Themenwelt	Mathematik / Informatik ► Mathematik
	Wirtschaft ► Allgemeines / Lexika
	Wirtschaft ► Volkswirtschaftslehre
Schlagworte	Arbeit • Auswertung • Bayes-Statistik • Bewertung • Ergebnis • Garantie • Information • Kosten • Mode • Planung • Prüfung • Simulation • Simulations • Stichproben
ISBN-13	9783790804683 / 9783790804683
Zustand	Neuware