1994 IEEE Vlsi Test Symposium

IEEE VLSI Test Symp. (Autor)

Buch | Softcover

484 Seiten

1994
IEEE Computer Society Press,U.S. (Verlag)
978-0-8186-5440-4 (ISBN)

Infos

Proceedings of the symposium held in Cherry Hill, New Jersey, April 1994. Technical sessions are devoted to synthesis and testability; testable mixed-signal circuit designs; built-in self-test; test generation & fault simulation; on-line testing; defect coverage & test quality; advanced test generat

Produkt-Details

• Erscheint lt. Verlag: 15.6.2006
• Verlagsort: Los Alamitos, CA
• Sprache: englisch
• Maße: 222 x 286 mm
• Gewicht: 1157 g
• Themenwelt: Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik
• ISBN-10: 0-8186-5440-6 / 0818654406
• ISBN-13: 978-0-8186-5440-4 / 9780818654404
• Zustand: Neuware