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14th IEEE Vlsi Test Symposium

April 28-May 1, 1996, Princeton, New Jersey : Proceedings

N.J.) IEEE Vlsi Test Symposium 1996 Princeton (Autor)

Buch | Softcover

510 Seiten

1996
IEEE Computer Society Press,U.S. (Verlag)
978-0-8186-7304-7 (ISBN)

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Reports on recent concepts, methodologies, and trends in testing electronic circuits and systems to meet the challenges of a wider range of capabilities being integrated into compact products, and the higher quality being demanded. Some 90 papers explore such aspects as designing for testability, on

Erscheint lt. Verlag	31.12.1996
Zusatzinfo	illustrations
Verlagsort	Los Alamitos, CA
Sprache	englisch
Maße	222 x 279 mm
Gewicht	1270 g
Themenwelt	Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik
ISBN-10	0-8186-7304-4 / 0818673044
ISBN-13	978-0-8186-7304-7 / 9780818673047
Zustand	Neuware