Zur Phänomenologie der Heißrissbildung beim Schweißen und Entwicklung aussagekräftiger Prüfverfahren
Seiten
2006
Wirtschaftsverlag N. W. Verlag für neue Wissenschaft
978-3-86509-599-2 (ISBN)
Wirtschaftsverlag N. W. Verlag für neue Wissenschaft
978-3-86509-599-2 (ISBN)
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- 19
| Reihe/Serie | BAM - Dissertationsreihe ; 19 |
|---|---|
| Sprache | deutsch |
| Maße | 165 x 235 mm |
| Gewicht | 362 g |
| Einbandart | Paperback |
| Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
| Schlagworte | HC/Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik |
| ISBN-10 | 3-86509-599-2 / 3865095992 |
| ISBN-13 | 978-3-86509-599-2 / 9783865095992 |
| Zustand | Neuware |
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