Transient Ion Beam Induced Charge/Currents Microscopy on High Power Semiconductor Devices
Seiten
2004
|
1., Aufl.
Shaker (Verlag)
978-3-8322-3428-7 (ISBN)
Shaker (Verlag)
978-3-8322-3428-7 (ISBN)
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| Reihe/Serie | Berichte aus der Energietechnik |
|---|---|
| Sprache | englisch |
| Maße | 148 x 210 mm |
| Gewicht | 141 g |
| Einbandart | Paperback |
| Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
| Schlagworte | Elektronik • Energietechnik • HC/Technik/Wärmetechnik, Energietechnik, Kraftwerktechnik • IBIC • Ion Beam Induced Charge • Nuclear microbeam |
| ISBN-10 | 3-8322-3428-4 / 3832234284 |
| ISBN-13 | 978-3-8322-3428-7 / 9783832234287 |
| Zustand | Neuware |
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