10th Annual Symposium on Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (Ipfa)
2003
I.E.E.E.Press (Hersteller)
978-0-7803-7723-3 (ISBN)
I.E.E.E.Press (Hersteller)
978-0-7803-7723-3 (ISBN)
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This CD-ROM covers topics on: advanced failure analysis techniques; advanced interconnects; dielectrics and hot-carrier reliability; EOS/ESD and CMOS latchup; practical issues in building-in reliability; and reliability and failure analysis in specialist devices.
Erscheint lt. Verlag | 30.9.2003 |
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Verlagsort | Piscataway NJ |
Sprache | englisch |
Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
ISBN-10 | 0-7803-7723-0 / 0780377230 |
ISBN-13 | 978-0-7803-7723-3 / 9780780377233 |
Zustand | Neuware |
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