2002 European Test Conf 7th
The Seventh IEEE European Test Workshop : Etw'02, 26-29 May 2002, Corfu, Greece
Seiten
2002
IEEE Computer Society Press,U.S. (Verlag)
978-0-7695-1715-5 (ISBN)
IEEE Computer Society Press,U.S. (Verlag)
978-0-7695-1715-5 (ISBN)
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"IEEE Computer Society order Number: PR01715"--verso of T.p.
Seventeen contributions to the May 2002 conference (devoted to issues of electronic-based circuit and system testing) are presented here. Topics include silicon technology advances and implications on test, a test time reduction algorithm for test architecture design for core-based systems, modeling
Seventeen contributions to the May 2002 conference (devoted to issues of electronic-based circuit and system testing) are presented here. Topics include silicon technology advances and implications on test, a test time reduction algorithm for test architecture design for core-based systems, modeling
| Erscheint lt. Verlag | 15.6.2006 |
|---|---|
| Verlagsort | Los Alamitos, CA |
| Sprache | englisch |
| Maße | 216 x 267 mm |
| Gewicht | 340 g |
| Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
| ISBN-10 | 0-7695-1715-3 / 0769517153 |
| ISBN-13 | 978-0-7695-1715-5 / 9780769517155 |
| Zustand | Neuware |
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