2001 8th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
Seiten
2001
I.E.E.E.Press (Verlag)
978-0-7803-6675-6 (ISBN)
I.E.E.E.Press (Verlag)
978-0-7803-6675-6 (ISBN)
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This volume contains the conference proceedings of the 2001 8th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits.
| Erscheint lt. Verlag | 30.9.2001 |
|---|---|
| Reihe/Serie | IEEE Conference Proceedings |
| Verlagsort | Piscataway NJ |
| Sprache | englisch |
| Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
| ISBN-10 | 0-7803-6675-1 / 0780366751 |
| ISBN-13 | 978-0-7803-6675-6 / 9780780366756 |
| Zustand | Neuware |
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