2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing (Dbt 2000)

IEEE Computer Society (Autor)

Buch | Softcover

85 Seiten

2000 | 2000 ed.
I.E.E.E.Press (Verlag)
978-0-7695-0637-1 (ISBN)

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A study of defect based testing, containing papers from an IEEE workshop held in 2000. Areas addressed include: deep sub-micron IDDQ testing; defect oriented testing; current measurement and yield; and current and voltage test techniques.

Erscheint lt. Verlag	31.5.2000
Verlagsort	Piscataway NJ
Sprache	englisch
Themenwelt	Mathematik / Informatik ► Informatik ► Theorie / Studium
	Informatik ► Weitere Themen ► Hardware
	Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik
ISBN-10	0-7695-0637-2 / 0769506372
ISBN-13	978-0-7695-0637-1 / 9780769506371
Zustand	Neuware