2000 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems (Dft 2000)
Seiten
2000
|
2000 ed.
I.E.E.E.Press (Verlag)
978-0-7695-0719-4 (ISBN)
I.E.E.E.Press (Verlag)
978-0-7695-0719-4 (ISBN)
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This work constitutes the proceedings of the 2000 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2000). Subjects addressed include: yield analysis and modelling; wafer scale/large area systems; fault-tolerant systems; tesitng strategies; and more.
| Erscheint lt. Verlag | 30.11.2000 |
|---|---|
| Verlagsort | Piscataway NJ |
| Sprache | englisch |
| Maße | 216 x 279 mm |
| Themenwelt | Mathematik / Informatik ► Informatik ► Theorie / Studium |
| Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik | |
| ISBN-10 | 0-7695-0719-0 / 0769507190 |
| ISBN-13 | 978-0-7695-0719-4 / 9780769507194 |
| Zustand | Neuware |
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